Ｓｉ_３Ｎ_４セラミックス におけるクラックの透過電子顕微鏡観察
　　−クラックの観察によるセラミックスの強じん性の評価−

写真の説明：
３．クラックが粒子内部を走る希な例で、ステップ状に方向を変え（１００）面に 平行になったときに直進する。
４．粒子が接合した粒界の結晶構造像で、２つの粒子は結晶方位をそろえて接合し、 強じんな粒界構造を持つ。

装置、撮影条件等：
日立Ｈ−８００形２００ｋＶ電子顕微鏡、薄膜資料作成法：イオンシニング

出品者所属・氏名：
日立製作所中央研究所　柿林博司、下津輝穂、永田文男・日立研究所　児玉弘則

撮影者所属・氏名：
日立製作所中央研究所　柿林博司、下津輝穂、永田文男・日立研究所　児玉弘則

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