1995年 学術部門 銀賞

C一BN結晶粒界に存在するh一BN層の直接観察

写真の説明:
イオンプレーティング法によりSi基板上に成長させた。c−BNの結晶格子像 である。粒径5〜20nmの積層欠陥を含むc−BN粒子が<110>方向に 集合した小さなドメインを形成している。c−BN粒子間に沿って比較的間隔の 広い縞模様観察される。これは、モワレ縞ではなく、結晶成長時に形成さたh−BN の(0002)面の格子縞(間隔0.33nm)であることが、モワレ干渉実験 およびナノ電子線回折より分かった。c−BN粒子を取り囲むようにh−BNが 存在しており、興味深い。

学術的な意義:
この写真より、c−BNの結晶成長にh一BNが関与することが直接示された。 また、c−BN膜内には大きな内部圧縮応力が存在するが、これは粒界に存在する h−BN層に起因することが示唆される。

装置、撮影条件等:
透過型電子顕微鏡(トプコン(株)製EM−002B)、加速電圧200kV、 直接観察倍率 59万倍

出品者所属・氏名:
(財)ファインセラミックスセンター 周維列、幾原雄一・日本工業大学 村川正夫、 渡辺修一・東芝タンガロイ(株) 鈴木哲也

撮影者所属・氏名:
(財)ファインセラミックスセンター 周維列、幾原雄一・日本工業大学 村川正夫、 渡辺修一・東芝タンガロイ(株) 鈴木哲也

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